介质损耗因数测试仪

GBT 1409-2006ZJD-B数字式介质损耗因数测试仪

介质损耗因数测试仪介绍

    ZJD-B全数字显示介质损耗因数测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

   ZJD-B数字式介质损耗因数测试仪读书清晰,无须换算,操作简便,特别适合电子元器件的质量分析,品质控制,科研生产,也可用于高校的电子信息,电子通信,材料科学等专业作科研实验仪器.

技术参数信号源频率范围DDS数字合成 10KHz-60MHzQ测量范围1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比6000:1Q分辨率4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度3X10 -5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差<5%电感测量范围15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH调谐电容主电容30-500PF电感测量误差<5%调谐电容误差和分辨率±1.5P或<1%标准测量频点全波段任意频率下均可测试Q合格预置范围5-1000声光提示谐振点搜索自动扫描Q量程切换自动/手动谐振指针LCD显示LCD显示参数F,L,C,Q,波段等  

GBT 1409-2006ZJD-C介质损耗因数测试仪

介质损耗因数测试仪介绍

   ZJD-C介质损耗因数测试仪是根据GB/T 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用IEC 60250）设计和制造的，并符合JB 7770等试验方法。它适用于在高频（1MHz）下绝缘材料的测试。

介质损耗因数测试仪技术参数　ZJD-C介质损耗因数测试仪作为*新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内*高的160MHz。 ZJD-C介电常数及介质损耗测试仪采用了多项领先技术：

1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

7 计算机自动修正技术和测试回路*优化 —使测试回路 残余电感减至*低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

　　ZJD-C介质损耗因数测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。 主要技术特性Q 值测量范围2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档固有误差≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围4.5nH ～ 140mH电容直接测量范围1 ～ 200pF主电容调节范围18 ～ 220pF主电容调节准确度120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％信号源频率覆盖范围100kHz ～ 160MHz频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字

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